| 日期-ID |
圖 片 |
設備名稱 |
制造商 |
型號 |
年份 |
報價(￥) |
詳細配置 |
狀 態 |
| 8.13-4654 |
 |
KLA EDR-7380缺陷檢測設備 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
電話+微信咨詢 |
12"設備完整不缺件300mm; |
國外
|
| 7.30-4615 |
 |
KLA STARLIGHT301(300SL)測量設備 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
電話+微信咨詢 |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.30-4614 |
|
KLA SP1-TBI測量設備 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
電話+微信咨詢 |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.30-4613 |
|
KLA SCD-XT測量設備 |
KLA |
SCD-XT |
- |
電話+微信咨詢 |
12"設備完整不缺件,有3臺現貨; |
國外
|
| 7.30-4612 |
|
KLA Archer A300 AIM測量設備 |
KLA |
Archer A300 AIM |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件； |
國外
|
| 7.24-4570 |
|
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA |
SP2 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國內
|
| 7.18-4393 |
|
KLA ARCHER 10套刻精度測量設備 |
KLA |
ARCHER 10 |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4353 |
|
KLA 2131光罩缺陷檢測設備 |
KLA |
2131 |
- |
電話+微信咨詢 |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4220 |
|
KLA 2401缺陷檢測設備? |
KLA |
2401 |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4439 |
|
KLA 2139缺陷檢測系統 |
KLA |
2139 |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4440 |
|
KLA AIT-3缺陷檢測系統 |
KLA |
AIT-3 |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4506 |
|
KLA UV1250SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1250SE |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4519 |
|
KLA AWUS3110晶圓探針臺 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
電話+微信咨詢 |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4529 |
|
KLA SF4500晶圓表面檢測設備 |
KLA |
SF4500 |
- |
電話+微信咨詢 |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4531 |
|
KLA 2131晶圓表面檢測設備 |
KLA |
2131 |
- |
電話+微信咨詢 |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4530 |
|
KLA FLX2908晶圓表面檢測設備 |
KLA |
FLX2908 |
- |
電話+微信咨詢 |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.18-4566 |
|
KLA ES31量測設備 |
KLA |
ES31 |
- |
電話+微信咨詢 |
300mm設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.17-361 |
|
KLA candela CS20表面分析儀 |
KLA |
CS20 |
2011 |
電話+微信咨詢 |
4-8"設備完整不缺件;
卡盤尺寸：3.7"
光學頭組件：
波長：405 nm
最大功率輸出：25mw
磁盤厚度檢測器（DTD）：
波長：655nm
最大功率輸出：10mw
盒式測繪傳感器：
波長：670 nm
最大功率 |
國外
|
| 7.17-3886 |
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測系統 |
KLA |
SFS6200 |
1995 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.17-2805 |
|
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
1999 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國外
|
| 7.9-4158 |
|
KLA Candela 8420表面缺陷檢測系統 |
KLA |
Candela 8420 |
2020 |
電話+微信咨詢 |
2-8"設備完整不缺件,20年入廠,設備九成新以上,目前機臺為6"; |
國內
|
| 7.1-2797 |
|
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP2 |
2011 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國外
|
| 6.21-2355 |
|
KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
SP3 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,含序列號; |
國內
|
| 6.13-4194 |
 |
KLA SF27缺陷檢測 |
KLA |
SF27 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國內
|
| 6.4-4190 |
 |
KLA candela CS20表面分析儀 |
KLA |
CS20 |
2010 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國內
|
| 5.29-3974 |
 |
KLA 2132缺陷檢測 |
KLA |
2132 |
1996 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,安裝調試加70W左右,備件成本太高; |
國內
|
| 4.23-3778 |
 |
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
2001 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國內
|
| 4.14-3846 |
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP2 |
2001 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,在線熱機; |
國內
|
| 4.7-3977 |
|
KLA P15輪廓儀 |
KLA |
P15 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,有現貨1臺; |
國內
|
| 4.7-1662 |
|
KLA TP500熱波信號測量 |
KLA科磊 |
TP500 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國內
|
| 4.7-3973 |
 |
KLA 2135缺陷檢測 |
KLA |
2135 |
1998 |
電話+微信咨詢 |
在線熱機,設備完整不缺件; |
國內
|
| 4.7-3976 |
 |
KLA RS55方阻測試儀 |
KLA |
RS55 |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,有現貨2臺(有臺缺件,打包賣+20W); |
國內
|
| 3.16-1955 |
|
KLA EDR 5200+電子束缺陷檢查設備 |
KLA |
5200+ |
- |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,無硬盤; |
國內
|
| 3.15-3832 |
 |
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA科磊 |
SFS6420 |
1995 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,有現貨1臺; |
國內
|
| 3.10-3894 |
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測系統 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,在線熱機在亞洲; |
國外
|
| 3.3-4176 |
 |
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件; |
國內
|
| 3.1-2151 |
|
KLA FLX2908缺陷檢測設備 |
KLA |
FLX2908 |
- |
電話+微信咨詢 |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
| 3.1-2149 |
|
KLA Tencor 8620晶圓檢測系統 |
KLA |
8620 |
- |
電話+微信咨詢 |
12"設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國外
|
| 3.1-2148 |
|
KLA 2350晶圓檢測設備 |
KLA |
2350 |
- |
電話+微信咨詢 |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
| 2.14-4163 |
|
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA |
SP2 |
2011 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,在線熱機,晶圓片300mm; |
國外
|
| 1.11-4148 |
|
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
1997 |
電話+微信咨詢 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更換,最后一次PM于2023年8月在美國進行，2",3",4",6",8"； |
國外
|
| 5.29-3975 |
 |
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA |
SFS6420 |
1995 |
電話+微信咨詢 |
設備完整不缺件,有現貨1臺; |
國外
|
| 5.9-3896 |
|
KLA Tencor CS10 R表面分析儀 |
KLA |
CS10 R |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 5.9-3895 |
|
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA |
SFS6420 |
2007 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 5.4-3888 |
|
KLA Tencor 8620晶圓檢測系統 |
KLA |
8620 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 4.4-3857 |
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測系統 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
電話+微信咨詢 |
美國在線熱機,用于4英寸和6英寸; |
國外
|
| 4.2-3847 |
 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2007 |
電話+微信咨詢 |
TBI翻新掩模和晶圓檢測,300/200mm x 3個端口,設備在美國; |
國外
|
| 3.15-3828 |
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1280SE |
2001 |
電話+微信咨詢 |
用途：薄膜測量系統
型號：UV1280SE
出廠日期：2001
系統配置：
目前配置為200mm晶圓尺寸
處理器：H3-NR晶圓處理器,SMIF x1
錢箱搬運：SMIF
機器人：H3PRI晶圓搬運器,雙端效應器
夾頭類型： |
國外
|
| 3.13-3826 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
電話+微信咨詢 |
已翻新; |
國外
|
| 2.20-3808 |
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
電話+微信咨詢 |
已翻修完無缺件,可驗機保固3個月; |
國內
|
| 2.16-3804 |
|
KLA Leica INS3000側掃聲納 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
電話+微信咨詢 |
有2臺,月底賣掉.. |
國外
|
| 2.7-3803 |
 |
KLA Tencor RS-75薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
RS-75 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 2.1-3800 |
 |
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
2000 |
電話+微信咨詢 |
競標中.. |
國外
|
| 2.1-3799 |
 |
KLA Tencor 6400晶圓檢測設備 |
KLA科磊 |
6400 |
1994 |
電話+微信咨詢 |
競標中.. |
國外
|
| 1.17-3782 |
 |
KLA Tencor 7700缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
1997 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 1.9-3777 |
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SFS6200 |
1995 |
電話+微信咨詢 |
The Surfscan 6200 is a tool that is capable of detecting defects as small as 0.09 μm with an 80% capture rate. It can lo |
國外
|
| 1.9-3776 |
 |
KLA SURFSCAN 4500顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
4500 |
- |
電話+微信咨詢 |
4" |
國外
|
| 1.8-3775 |
 |
KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
SP3 |
2014 |
電話+微信咨詢 |
在線熱機,2月份拆機; |
國外
|
| 12.27-3509 |
|
KLA AIT 1缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
AIT 1 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3510 |
|
KLA Tencor 7700缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3511 |
|
KLA Viper 2401缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Viper 2401 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3512 |
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3513 |
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3514 |
|
KLA 2131缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
2131 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 12.27-3508 |
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"備件機; |
國內
|
| 9.9-2860 |
|
KLA-Tencor (ICOS) CD測量 |
KLA科磊 |
Manual |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.9-2864 |
|
KLA CI-T830 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T830 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.9-2868 |
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
電話+微信咨詢 |
2 |
國外
|
| 9.9-2806 |
|
KLA FLX-5400 Flexus晶圓翹曲度測量儀 |
KLA科磊 |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
電話+微信咨詢 |
已打包 |
國外
|
| 9.9-2859 |
|
KLA-Tencor (ICOS) CD測量 |
KLA科磊 |
ICOS6100_7.6 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.9-2867 |
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T120 |
- |
電話+微信咨詢 |
3 |
國外
|
| 9.9-2869 |
|
KLA CI-T130 lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.9-2865 |
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
電話+微信咨詢 |
4 |
國外
|
| 9.9-2863 |
|
KLA Industrial Camera工業相機 |
KLA科磊 |
IVC-1600 |
- |
電話+微信咨詢 |
2 |
國外
|
| 9.9-2862 |
|
KLA Industrial Camera工業相機 |
KLA科磊 |
IVC-2000 |
- |
電話+微信咨詢 |
2 |
國外
|
| 9.9-2861 |
|
KLA IVC-4000缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
IVC-4000 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.9-2866 |
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 |
國外
|
| 9.8-2804 |
|
KLA Surfscan SP3(上料機構) |
KLA科磊 |
SP3 |
2012.3 |
電話+微信咨詢 |
上料機構; |
國外
|
| 4.24-2789 |
|
KLA UV-1050薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV-1050 |
1996.5 |
電話+微信咨詢 |
200mm As-Is, Where-Is;含軟件及硬盤 |
國外
|
| 4.24-2777 |
|
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
電話+微信咨詢 |
300mm As-Is, Where-Is;不含硬盤 |
國外
|
| 4.24-2776 |
|
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
電話+微信咨詢 |
300mm,Where-Is,不含硬盤; |
國外
|
| 4.19-2767 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
電話+微信咨詢 |
Equipment Make: KLA-Tencor
Equipment Model: SP 1-TBI
Wafer Size: 8,12inch
Equipment Configuration
- Windows |
國外
|
| 3.19-2553 |
 |
HITACHI KLA8100掃描電鏡 |
HITACHI |
KLA8100 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"有1臺; |
已售
|
| 3.19-2552 |
|
KLA 2131缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
2131 |
- |
電話+微信咨詢 |
6"有1臺; |
已售
|
| 11.2-2360 |
|
KLA P-15單向節流閥 |
KLA科磊 |
P-15 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2358 |
|
KLA Ultrascan 9300掩模版檢測設備 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9300 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2356 |
|
KLA AFS-3220晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
AFS-3220 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2359 |
|
KLA PHX DF 5.0缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
PHX DF 5.0 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2361 |
|
KLA Leica INM300金相顯微鏡 |
KLA |
INM300 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2357 |
|
KLA Ultrascan 9000光測量系統 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9000 |
- |
電話+微信咨詢 |
8 As-is |
國外
|
| 11.2-2354 |
|
KLA Surfscan SP1 DLS晶圓檢測儀 |
KLA科磊 |
SP1-DLS |
- |
電話+微信咨詢 |
6-12 As-is |
國外
|
| 7.3-2320 |
|
KLA ACROTEC6020晶圓缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
ACROTEC 6020 |
- |
電話+微信咨詢 |
Inspection system/PC/HDD. |
國外
|
| 6.15-2291 |
|
KLA-Tencor M-Gage 300薄膜電阻測量設備 |
KLA科磊 |
M-Gage 300 |
2001 |
電話+微信咨詢 |
Al Thickness measurement 8寸 |
國外
|
| 6.15-2304 |
|
KLA ADE 9500晶圓計量與檢測設備 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
電話+微信咨詢 |
Multifunctional measurement |
國外
|
| 6.15-2310 |
|
KLA Filmetrics F20薄膜測厚儀 |
KLA科磊 |
F20 |
2021 |
電話+微信咨詢 |
Thickness Measurement |
國外
|
| 6.15-2311 |
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2000 |
電話+微信咨詢 |
Film Thickness Measurement |
國外
|
| 6.10-2284 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
電話+微信咨詢 |
有兩臺 |
國外
|
| 5.24-2256 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2000 |
電話+微信咨詢 |
Kla-tencor One Technology Driveu iMilpitas , CA 95035
Model : SPI-TBI
Serial No : 0800-0496
Voltage : 208-240 , I Pha |
已售
|
| 3.20-1952 |
|
KLA CANDELA CS2薄膜測量 |
KLA |
CANDELA CS2 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國內
|
| 2.19-70 |
|
KLA Leica AT500激光跟蹤儀 |
KLA |
AT500 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 SET |
國外
|
| 2.19-372 |
|
KLA CI-T53P檢測設備 |
KLA |
CI-T53P |
- |
電話+微信咨詢 |
1 SET |
國外
|
| 2.19-371 |
|
KLA ICOS T830測試系統 |
KLA |
ICOS T830 |
- |
電話+微信咨詢 |
1 SET |
國外
|
| 10.1-478 |
|
KLA SFS7700顆粒測試儀設備 |
KLA |
SFS7700 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-841 |
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
電話+微信咨詢 |
[Semi power-on] 2port(Asyst ISO port), Robot & aligner(Yaskawa) |
國外
|
| 10.1-823 |
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
電話+微信咨詢 |
[As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Yaskawa(Robot&Aligner), 2channel, Mercury Image PC, Dell PowerEdge 2600 without HDD, Stag |
國外
|
| 10.1-533 |
|
KLA Aleris CX晶圓檢測系統 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
電話+微信咨詢 |
[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Yaskwa(Robot & Aligner) |
國外
|
| 10.1-483 |
|
KLA Surfscan 2.1晶圓檢測系統 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-482 |
|
KLA MPV CD2 AMC檢測設備 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-479 |
|
KLA MPV-CD尺寸量測設備 |
KLA |
MPV-CD |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-477 |
|
KLA Ergolux表面輪廓儀 |
KLA |
Ergolux |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-476 |
|
KLA INM100+INS10顯微鏡 |
KLA |
INM100+INS10 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1394 |
|
KLA CRS1010晶圓載臺控制器 |
KLA科磊 |
CRS1010 |
1998 |
電話+微信咨詢 |
Microscope |
國外
|
| 10.1-1660 |
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2003 |
電話+微信咨詢 |
METROLOGY |
國外
|
| 10.1-960 |
|
KLA AIT UV晶圓檢測設備 |
KLA |
AIT UV |
2003 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1370 |
|
KLA Polylite 88薄膜測量系統 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-481 |
|
KLA MPV CD2 AMC檢測設備 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-988 |
|
KLA NANOMAPPER表面輪廓儀 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
電話+微信咨詢 |
[As-is] 2x Open Foup type, Kensington(Robot&Controller), Stage locked) |
國外
|
| 10.1-1663 |
|
KLA AIT Ⅱ缺陷檢測儀 |
KLA科磊 |
AIT Ⅱ |
1999 |
電話+微信咨詢 |
METROLOGY |
國外
|
| 10.1-1661 |
|
KLA EDR-5210S晶圓缺陷檢查系統 |
KLA科磊 |
EDR-5210S |
2011 |
電話+微信咨詢 |
METROLOGY |
國外
|
| 10.1-1519 |
|
KLA Tencor 2552缺陷數據分析處理儀 |
KLA科磊 |
2552 |
- |
電話+微信咨詢 |
As-is |
國外
|
| 10.1-1454 |
|
KLA Viper 2438晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2438 |
2008 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1423 |
|
KLA Spectra FX200薄膜量測 |
KLA |
FX200 |
2006 |
電話+微信咨詢 |
[Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Aligner, Robot) |
國外
|
| 10.1-1325 |
|
KLA Viper 2438晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2438 |
2010 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1455 |
|
KLA Viper 2435晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2435 |
2006 |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1194 |
|
KLA DP2缺陷檢測設備 |
KLA |
DP2 |
2012 |
電話+微信咨詢 |
DP2 Data Prep Station |
國外
|
| 10.1-961 |
|
KLA WI-2280晶圓檢測機臺 |
KLA |
WI-2280 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-967 |
|
KLA HRP-340表面輪廓測量系統 |
KLA |
HRP-340 |
2004 |
電話+微信咨詢 |
2port(Asyst ISO port), stage locked by KLA Standard, Brooks(Robot&Aligner), HDD included, S/W ver. V7.3, |
國外
|
| 10.1-966 |
|
KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測 |
KLA |
EDR-5210 |
- |
電話+微信咨詢 |
2x Load port( Brooks, Brooks Robot&Aligner, Edward TMP, Varian ion pump, ICA Dry Cool(OXIFORD) |
國外
|
| 10.1-965 |
|
KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
電話+微信咨詢 |
2xLoad port(Brooks FixLoad), Robot& Aligner(Brooks),TMP(Edward),Ion pump(Varian) |
國外
|
| 10.1-964 |
|
KLA Puma 9130晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9130 |
2005 |
電話+微信咨詢 |
[As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI aligner, Brooks robot, SCC(Dell Power Edge2900), Stage locked by KLA-Tencor standard, 2 |
國外
|
| 10.1-963 |
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
電話+微信咨詢 |
[As-is] Handler missing, Dell power edge 2600, Optic damaged, Stage failure & damaged, Many Missing parts |
國外
|
| 10.1-962 |
|
KLA WI-2280晶圓檢測機臺 |
KLA |
WI-2280 |
- |
電話+微信咨詢 |
- |
國外
|
| 10.1-1324 |
|
KLA Tencor ES31晶圓檢查系統 |
KLA |
ES31 |
2004 |
電話+微信咨詢 |
E-beam Inspection / SEMs in Microscopes, Optical Inspection |
國外
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